XT-50 夏比投影儀
一、概述（shù）
隨著國內（nèi）工（gōng）業技術的發展，越來越多的（de）行業已經開始執行《金屬夏（xià）比衝（chōng）擊試驗方法》該標準（zhǔn）對試樣要求相當嚴格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響終的試驗結果。如（rú）果試樣加工質量不合格，那麽其（qí）試驗結（jié）果是不可信（xìn）的（de），特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產品的合格或報廢（fèi）兩種截然相反（fǎn）的（de）不同結（jié）局。為保證試樣缺口的合格，其質量檢驗是一個（gè）重要的控製手段，目（mù）前，用光學投影放大檢驗是切實可行的方法。
XT-50型衝擊試樣投影儀是我公司根據廣大（dà）用戶的實際需要和（hé）GB/T299-1994《金屬夏（xià）比衝擊試驗方（fāng）法》中（zhōng）對衝擊試樣缺口的要求而開發的一種專用於檢（jiǎn）驗夏比V型和U性型缺口加工質量的光學儀器，該儀器是利（lì）用光學投影方法將被測（cè）的衝擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍後投射到投影屏上，與投影屏（píng）上的衝擊試樣V型和U型缺口標準樣板圖（tú）對比，以確定被檢測（cè）的（de）試樣缺口是否合格。其優點是操作簡便，對（duì）比直觀。
二、工作原理（lǐ）：
根據需要，本儀器為單一（yī）投射照明，光源通過一係列（liè）光學（xué）元件投射（shè）在工（gōng）作台上，再通過一係列光學元件將被（bèi）測試樣缺口輪廓清晰的投射到投（tóu）影（yǐng）儀上。物體經二次放大和二次反射成正像，在投影（yǐng）屏上所看到的圖形與（yǔ）實際試（shì）樣放置（zhì）的方位（wèi）一致（zhì）。
本投影儀光源發出的光線經（jīng）聚光鏡（jìng）照射到被測物體，再經物鏡將被照（zhào）射物體放大的輪（lún）廓投射到投影屏上。
三、主（zhǔ）要參數：
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投影屏直徑：
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180mm
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工作台尺寸：
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方工（gōng）作台尺寸：
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110×125mm
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圓工作台直徑：
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90mm
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工作台玻璃直徑：
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70mm
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工作台行程：
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縱向：
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±10mm
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橫向：
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±10mm
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升降：
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±12mm（無刻度）
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工作台轉動範圍：
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0-360°（無（wú）刻度）
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放大倍數：
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儀器放大倍率：
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50X
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物鏡放大倍率（lǜ）：
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2.5X
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投影物鏡放大倍率：
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20X
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光源（鹵鎢（wū）燈）：
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12V 100W
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外形尺寸：
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515×224×603mm（長×寬×高）
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重量：
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約18Kg
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