鎧裝鉑熱波膜電阻
WZPK-105U，WZPK-324U，WZPK-364U，WZPK-264U，WZPK-163U，WZPK-523U，WZP-421D，WZPK-103U，WRP2-121B，WZP2-74S
簡單（dān）介紹
WZPK-466U|鎧裝鉑熱波膜電阻CRZ係列薄（báo）膜鉑熱電阻元件是（shì）把金屬鉑研製成粉漿（jiāng），采用先進的激光噴濺薄（báo）膜技術及光刻法和幹燥（zào）蝕刻法把附著在陶瓷基片上形成膜
WZPK-466U|鎧裝（zhuāng）鉑熱（rè）波膜電阻
的（de）詳細介紹
WZPK-466U|鎧裝鉑熱波膜電阻（zǔ）
熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用於測量（liàng） -200℃～﹢800℃範圍內的（de）溫度。其優點是：偏差極（jí）小。由於它的良好電（diàn）輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供（gòng）精確的輸入值。
WZPK466U鎧裝（zhuāng）鉑熱波膜電阻，WZPK-466U,的詳（xiáng）細資料：
1． 測溫範圍、允差
名稱 型號（hào） 分度號 測溫範圍 等級 允許偏差
鉑電阻
WZP Pt100
Pt10 -200~±650℃ A ±（0.15+0.02t）
B ±0.30+0.005t
銅電阻 WZC Cu50
Cu100 -50~+150℃ ±（0.30+0.006t）
2.熱響應時間
在溫度出現階躍變化時,熱電阻的電阻值變化至相當於該階躍變化的50%，所需要的時間稱為熱響應時間，用t0.5表示。
3.自熱影響（xiǎng）
鉑電阻允許通（tōng）過電流1mA，最大測量電流為5mA，由（yóu）此產生（shēng）的升溫不大於0.3℃。
4.電阻溫度（dù）係數（α）與標稱值的偏差
名稱 等級 α α
鉑電阻 A 0．003851 ±0.000006
B ±0.000012
銅電阻 0．004280 ±0.000020
5.絕緣電阻
當周圍空氣溫度（dù）15-35℃和相對濕（shī）度（dù）小於80%時熱電阻絕緣電阻不小於100MΩ。
薄膜鉑電阻元件
一、 概述（shù）
CRZ係列薄膜鉑熱電阻元件是把金屬鉑研製成（chéng）粉漿（jiāng），采用先進的激光（guāng）噴（pēn）濺（jiàn）薄膜技術及光刻法和幹燥蝕刻法把附著在陶瓷基（jī）片上形成膜，引（yǐn）線經過激光調阻製成，完全自動的生產（chǎn）程序保證了產品完（wán）全符合（hé）IEC標準。
二、 技術特點
1． 薄膜鉑熱電阻元件用陶瓷和鉑製成，因而在高溫下能（néng）夠保持優良的穩定性（xìng），適合在-50～400℃的溫度下使用。
2． 鉑薄膜（mó）通過激光噴（pēn）濺在陶瓷表層，因而它具有良好的防震和（hé）防（fáng）衝擊性能。
3． 薄膜表麵蓋以陶瓷，因而元件能夠（gòu）承（chéng）受（shòu）高壓，並（bìng）具有良好的絕緣性。
4． 引線（xiàn）材料（liào）為鎳鍍金和純鈀兩種。
5． 規格：
型號 規格
長×寬×高（gāo） 阻值 測量電流 精度 測量範圍 熱響應時間
CRZ-1632 3.2×1.6×1.0 PT100
PT100 ≤1mA A -50～550℃ ≤0.3S
CRZ-2005 5.0×2.0×1.1 PT50 ≤2mA A -50～400℃
CRZ-2005 5.0×2.0×1.0 PT10 ≤0.5mA B -50～500℃
6． 精度：
等級 α 0℃時的電阻（zǔ）值（Ω） 允許偏（piān）差（Ω）
A 0.003851 100.00 ±0.150+0.002t
B 0.003851 100.00 ±0.30+0.005t
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